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三箱式冷熱沖擊試驗箱

更新時(shí)間:2024-05-11
型號:LQ-TS-80A
訪(fǎng)問(wèn)次數:1091
三箱式冷熱沖擊試驗箱是根據用戶(hù)要求設計制造,適用于航空、航太、軍工、艦船、電工、電子等產(chǎn)品整機及零部件的高低溫沖擊試驗及高溫或低溫環(huán)境下的貯存和試驗。供用戶(hù)對整機(或部件)、電器、儀器、材料、涂層、鍍層等作相應的氣候環(huán)境加速試驗,以便對試品或試品試驗行為作出評價(jià)。
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品牌其他品牌價(jià)格區間面議
產(chǎn)地類(lèi)別國產(chǎn)應用領(lǐng)域化工,建材,電子,航天,汽車(chē)

三箱式冷熱沖擊試驗箱是根據用戶(hù)要求,參照GJB150.5、GJB360.7、GJB367.2溫度沖擊試驗相應技術(shù)條件制造。主要用來(lái)測試材料結構或復合材料,在瞬間下經(jīng)*溫和極低溫的連續環(huán)境下所能承受的程度,借以在最短時(shí)間內試驗其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害,適用的對象包括金屬、塑膠、橡膠、電子…等材料,可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據或參考。

三箱式冷熱沖擊試驗箱適用于航空、航太、軍工、艦船、電工、電子等產(chǎn)品整機及零部件的高低溫沖擊試驗及高溫或低溫環(huán)境下的貯存和試驗。供用戶(hù)對整機(或部件)、電器、儀器、材料、涂層、鍍層等作相應的氣候環(huán)境加速試驗,以便對試品或試品試驗行為作出評價(jià)。


性能參數參考如下:

一、低溫沖擊可選擇溫度范圍:A-20℃;B-40℃;C:55℃;D:-65℃(廠(chǎng)家還免費配高溫至150度)。

二、溫度偏差:±2℃。

三、溫度波動(dòng)度:±0.5℃。

四、溫度恢復時(shí)間:≤5min。

五、溫度恢復條件:高溫150℃曝露30min低溫-20℃曝露30min,高溫150℃曝露30min低溫-40℃曝露30min,高溫150℃曝露30min低溫-55℃曝露30min,高溫150℃曝露30min低溫-65℃曝露30min。

六、溫度沖擊轉移方式:采用氣動(dòng)驅動(dòng)。   

七、高溫室儲溫的升溫時(shí)間:30min (+25℃~+200℃)。

八、低溫室儲溫的降溫時(shí)間:65min (+25℃~-75℃)。

九、低溫沖擊試驗機|低溫沖擊機|沖擊試驗機工作時(shí)的噪音:(dB)≤65( 標準規定≤65分貝不算噪音)

十、型號             內箱尺寸(mm)             外箱尺寸(mm)           功率(kw)

LQ-TS-49       W360×H350×D400        W1550×H1730×D1440           18.5       

LQ-TS-80       W500×H400×D400        W1650×H1830×D1500           23.0

LQ-TS-150      W600×H500×D500        W1750×H1930×D1570           28.0

LQ-TS-225      W500×H750×D600        W1450×H2100×D1670           34.0

LQ-TS-408      W750×H800×D800        W1550×H2150×D1900           42.0

 

柳沁科技LQ-TS芯片測試冷熱沖擊實(shí)驗箱示例圖1

柳沁科技LQ-TS芯片測試冷熱沖擊實(shí)驗箱示例圖2

柳沁科技LQ-TS芯片測試冷熱沖擊實(shí)驗箱示例圖3



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